19542994910
應(yīng)用案例
當(dāng)前位置：首頁 > 應(yīng)用案例
2025/6/6 16:45:37
原位拉伸熱臺(tái)是一款用于在變溫環(huán)境中測(cè)試樣品應(yīng)力應(yīng)變特性的設(shè)備，可對(duì)樣品進(jìn)行拉伸、壓縮，或按預(yù)設(shè)程序進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。果果儀器為寧波材料所定制500N，RT~150℃拉伸熱臺(tái)，用于適配復(fù)享光學(xué)R1角分辨光譜儀，測(cè)量彈性聚合物水凝膠在加熱及拉伸情況下不同角度的光入射至樣品面的情況。R1角分辨光譜儀果果儀器原位拉伸熱臺(tái)產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：1、溫度范圍：RT~150℃2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃3、變溫速率：0.1~20℃/min可調(diào)4、拉力量程：500N5、拉力精度：0.5%FS6、位移距離：5
查看詳情
2025/5/23 9:46:12
根據(jù)客戶需求，果果儀器為比亞迪成功定制開發(fā)高壓冷熱臺(tái)，助力新能源領(lǐng)域相關(guān)新材料的研發(fā)。隨著催化材料在新能源、半導(dǎo)體、生物催化及電化學(xué)等領(lǐng)域的深入應(yīng)用，科研與工業(yè)界對(duì)高精度熱分析技術(shù)的需求日益增長。傳統(tǒng)高溫高壓冷熱臺(tái)因體積龐大、操作復(fù)雜，且難以與拉曼光譜、顯微成像等光學(xué)設(shè)備聯(lián)用，嚴(yán)重制約了材料原位表征的效率和精度。果果儀器高壓冷熱臺(tái)，以創(chuàng)新設(shè)計(jì)突破技術(shù)瓶頸，為催化研究提供高效、精準(zhǔn)的解決方案。規(guī)格參數(shù)：1、溫控范圍：-60℃~600℃；2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；3、壓力范圍：0~5
查看詳情
2025/5/16 11:36:48
果果儀器專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。根據(jù)客戶需求，果果儀器為儀綜所定制光纖耦合的真空探針臺(tái)。定制異形加熱臺(tái)芯，適配微型器件，提供探針組件，可以進(jìn)行光電測(cè)試。產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)*溫度范圍：-120~50℃；*溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；*溫控性能：可高溫保持4h以上，具備溫度循環(huán)功能，可程序設(shè)定恒溫保持溫度和時(shí)間，可程序設(shè)定升降溫速率，腔體內(nèi)溫度隨
查看詳情
2025/5/16 11:17:06
外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)通過外部位移臺(tái)移動(dòng)探針，針尖可以與樣品表面的任何區(qū)域接觸。電信號(hào)通過探針及信號(hào)線傳輸?shù)絻x表進(jìn)行電學(xué)測(cè)試，并分析材料在不同溫度下的電學(xué)性能。果果儀器為南洋理工大學(xué)定制外部可調(diào)光纖探針臺(tái)，耦合光、電、溫度等多場原位測(cè)試。產(chǎn)品特點(diǎn)：1、溫度范圍：-190℃~RT；2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；3、載樣臺(tái)尺寸：23x23mm，銀質(zhì)；4、定制可調(diào)節(jié)的光纖，實(shí)現(xiàn)XYZ方向±6mm位移；5、提供2個(gè)外部可調(diào)探針夾具，適配客戶射頻探針，實(shí)現(xiàn)XYZ方向±6mm
查看詳情
2025/5/9 10:52:11
根據(jù)客戶需求，果果儀器為中國科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所定制的SEM原位冷臺(tái)，適配國儀量子FIB-SEM DB500，助力相關(guān)測(cè)試研究。國儀量子聚焦離子束顯微鏡（簡稱FIB）DB500 機(jī)臺(tái)擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì)，低電壓高分辯率成像，保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。果果儀器-SEM原位冷臺(tái)，是一種應(yīng)用在掃描
查看詳情
2025/4/18 9:18:15
晶圓熱分布表征是先進(jìn)半導(dǎo)體制造工藝開發(fā)的核心環(huán)節(jié)，直接影響器件電學(xué)性能、產(chǎn)線良率及產(chǎn)品可靠性。典型工藝需求涵蓋：較高難度下溫域覆蓋-190℃（深冷鍵合工藝）至500℃（ALD薄膜沉積）,特殊工藝如SiC外延生長需達(dá)1200℃。動(dòng)態(tài)熱管理要求±0.1℃級(jí)溫度穩(wěn)定性，晶圓面內(nèi)≤±1℃熱均勻性，0.1-50℃/min可編程溫變速率。多模態(tài)兼容需滿足拉曼光譜分析、顯微成像等原位檢測(cè)需求。果果儀器專精于溫控技術(shù)，根據(jù)客戶需求，為客戶定制了晶圓測(cè)試專用的光學(xué)冷熱臺(tái)。該款產(chǎn)品采用電
查看詳情
微信公眾號(hào)